XULM
XRF镀层厚度分析仪,操作简单,有***的功能价格比。
XULM特别适合于测量大量不同形状的元件,只需***精力***。
手动测量台,样品***非常容易及快速。
XULM系列是属于小巧型的荧光光谱仪
可用于镀层厚度及物料分析测量。
X-Ray荧光的发射及***都是装置在仪器的底部,
这样的设计特别适合测量一些不同形状及细小的样品,
不需要每次移动测量头来对焦距。
更是配备了微焦距的X-Ray管,测量点的面积会更小
适合测量一些更细小型五金零件的电镀层测量
例如:电线、端子中的针头等等。
此型号仪器特别适合的测量样品包括:
手表、珠宝、端子、电路板......