电镀膜厚检测仪

X射线电镀膜厚检测仪器
【详细说明】
X荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越，而且价钱超值。只需数秒钟，便能非***性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板，五金电镀，首饰，端子等行业的。可测量各类金属层、合金电镀厚度。
X-射线管：油冷，超微细对焦
高压：0-50KV（程控）
准直器：
固定种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自动种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统：IBM相容，17”显示器
三步即可获得测量结果
1.将产品放置在样品台上，无损分析，无需样品制备
?开槽式样品仓便于放置产品
?超大样品台便于大面积产品（如：PCB）测量
?配备了门开闭传感器，增强了安全性
2.一键完成视频聚焦，一键自动镭射聚焦，避免人为操作误差
?标配固定焦距12.7mm，选配变焦
?高分辨率、高放大倍率的彩色数码影像装置，画面清晰、测试点精准***；放大倍数：30倍（标配），50倍（选配）
?自动台：利用可编程XY样品台和Z轴实现单次或多次分析操作
?简单快速的多点分析
3.几秒内显示结果
?保存、打印或传输结果
?测试结果可一键导出PDF（标配）、Excel（选配）
?使用预置和客户自定义的报告模板
综合性能：镀层分析
镀层分析：可分析单层镀层，双层镀层，三层镀层， 合金镀层。
镀液分析：可分析镀液的主成份浓度（如镀镍***的镍离子浓度，镀铜***的铜离子浓度等），简单的核对方式，无需购买标准药液。
定性定量分析：可定性分析20多种金属元素，并可定量分析成分含量。
光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比，可确定样品与标准件的差别，从而控制来料的纯度。
统计功能：能够将测量结果进行系统分析统计，方便有效的控制品质。
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