JB4060型表面污染检测仪，适用于α，β辐射表面污染检测，同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器，具有较高的探测效率；是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α，β辐射表面污染检测或X，γ辐射防护监测的理想仪器，该仪器采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。
JB4060型表面污染检测仪特点：
进口盖革探测器，探测效率高
可测量α、β、γ、X射线
可移动金属屏可在β/γ混合场中用于区分β和γ
便携式，一体化设计，重量轻
单片机控制，软件功能强
LCD液晶显示，会话式操作界面
计数率显示cpm、cps、μSv/h
电池失效报警
主要技术指标：
计数范围：1～105
显示单位：cpm、cps、μSv/h
探测器：卤素-水淬式盖革-弥勒计数管（进口）。有效直径：45mm； 云母薄片密度：1.5-2.0mg/cm2
灵 敏 度：α表面活度响应>1.7s-1Bq-1cm2
β表面活度响应>1.7s-1Bq-1cm2
γ≥500CPM/μSv·h-1（对137Cs）
剂量率范围：0.06～2500.00µSv/h
仪器本底：每分钟计数≤60CPM
相对误差：测量范围内相对基本误差≤15%
供电电源：2节1.5v普通5号电池，整机电流≤50mA
温度范围：-10℃～45℃
湿度范围：相对湿度≤90%（40℃）
尺寸重量：0.7kg;23×13×4.5（cm）
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