PC-422R8D高加速寿命试验装置

名  称：PC-422R8D高加速寿命试验装置（HAST）  
用  途：半导体、电子组件、塑封器件/材料、光器件、PCB等稳态湿热（不饱和加压蒸汽）试验，磁性材料失重试验 制造商：株式会社平山制作所（HIRAYAMA）  
特  点：1、独特的无结露设计。2、双腔体设计。3、抽屉式滑动托盘设计。4、饱和试验（STD）和不饱和试验（HUM）两种试验模式。5、电子自动门锁紧结构。6、多种排气方式。7、可依据客户需要，选配不同试验夹具  
技术特性： 型号 PC-422R8D   
内腔体尺寸 Φ 42420 ×  D657 mm  D M  
(2个完全***运行的箱体）  (   
温度范围 105.0 to 150.0deg C   
湿度范围 65 to 100%RH   
压力范围 0.019 to 0.208MPa   
连续试验时间 500Hours