非接触测厚 ZM100测透明薄膜的厚度
客户需求：测透明薄膜的厚度
量程：1-3mm
测量方案：采用ZM100非接触测厚仪检测：将薄膜套在标准轴上，通过测标准轴和套薄膜的标准轴的直径，间接检测薄膜的厚度。精度5um。
薄膜厚度测量通过软件对测量数据进行处理和误差补偿从而能够消除电路和传感器的长期漂移对测量精度的影响、测量数据长期稳定。由于薄板厚度的变化可以看成是薄膜的位移变化，所以利用非接触测厚仪测量位移的原理对薄膜厚度的变化进行测量是一种较为理想的非接触测量方法。
检测方法如图所示：
ZM100非接触测厚仪应用领域：
可用于物体尺寸的非接触测量与控制，如零件高度、边缘、直径、线径、宽度、间隙、内径、外径等。有效降低了生产后的单件检验成本，并能有效节省原物料的损耗，降低人员需求。
非接触测厚仪主要特点：
高精度：***高线性度5um；
量程范围广：可测500mm外径的物体（可根据实际情况定制更大外径型号）；
支持多个传感器同步采集（确保工业在线高精度差动测厚）；
可以对操作系统实施不同的参数设置，改变测量方式；
在PC上十分直观的显示出测量值，方便对测量过程实施监控。
非接触测厚仪工作原理：
ZM10X由两部分构成：***1 和***2。激光发光二极管3的光通过光学系统4形成了光幕。被测物体5的阴影图像通过望远镜系统6***终形成在线性CCD阵列7上。信号处理器9计算出它的大小。
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