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由于焊料或者前置焊球所引发的“阴影”效果限制了X射线设备的检测工作,使之仅能粗略地反映BGA的工艺过程缺陷,例如:桥接现象。同时也影响到检测边缘部份的工艺缺陷,像焊料不足,或者由于污染引起的断路现象。
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BGA技术的研究始于60年代,***早被美国IBM公司采用,但一直到90年代初,BGA 才真正进入实用化的阶段。
在80年代,人们对电子电路小型化和I/O引线数提出了更高的要求。虽然***T使电路组装具有轻、薄、短、小的特点,对于具有高引线数的精细间距器件的引线间距以及引线共平面度也提出了更为严格的要求,盐城回收电子,但是由于受到加工精度、可生产性、成本和组装工艺的制约,一般认为QFP(Quad Flat Pack 方型扁平封装)器件间距的极限为0.3mm,回收电子哪家好,这就大大限制了高密度组装的发 展。另外,由于精细间距QFP器件对组装工艺要求严格,使其应用受到了限制,为此美国一些公 司就把注意力放在开发和应用比QFP器件更优越的BGA器件上。
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***T技术进入90年代以来,走向了成熟的阶段,但随着电子产品向便据式/小型化、网络化和多媒体化方向的迅速发展,对电子组装技术提出了更高的要求,新的高密度组装技术不断涌现,其中BGA(Ball Grid Array球栅阵列封装)就是一项已经进入实用化阶段的高密度组装技术。本文试图就BGA器件的组装特点以及焊点的质量控制作一介绍。
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