BKTEM-Dx热电性能分析系统
关键词：热电材料，Seebeck系数，电导率， 电阻率，V-1装置
产品介绍：
BKTEM-Dx热电性能分析系统是我国热电材料的***设备，是***材料计
划中***前沿装备，是我国科研人员几十年的精心参与和设计出来的热电材料
测试仪，其测试性能远超越国内外热电材料测试仪，不仅可以用于块体材
料同时也可以用于薄材料的测试，是目前国内高等院校和材料研究所的重要设
备。
对于热电材料的研究，热电性能测试是不可或缺的试验数据。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以***地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。主要原理和特点如下:
该装置由高精度，高灵敏度温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温，采用四点法的方式***测定半导体材料及热电材料的Seebeck系数及电导率、电阻率。试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
一、适用范围：
1、***地测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。
3、块体和薄膜材料测均可以测试。
4、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
5、拥有自身专利分析软件，***分析，过程自动控制，界面友好。
6、国内高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。
7、汽车和燃油、能源利用效率、替代能源领域、热电制冷.
8、很多其他工业和研究领域-每年都会诞生新的应用领域。
二、技术特点：
·解决高温下温控精度不准的问题，静态法测量更加直观的了解产品热电材料的真正表征物理属性。
- 温度检测可采用J、K型热电偶，降低测试成本。
·试样采用独特的焊偶机构，保证接触电阻***小以及测量结果的高重现性。
- 每次可测试1-3个样品.
- 采用***数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差，可控温场下同步测量赛贝克系数和电阻率。
三：主要技术：
测量温度：室温-600℃,800℃,1200℃ 可选
同时测试样品数量：1个，2个，3个 可选
控温精度：0.5K（温度波动:≤&plu***n;0.1℃）
测量原理：塞贝克系数：静态直流电；电阻系数：四端法
测量范围：塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K；电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm
分辨率：塞贝克系数：10nV/K;电阻系数： 10nOhm
测量精度：塞贝克系数：＜&plu***n;6％；电阻系数：＜&plu***n;5％
样品尺寸：块体方条形：2-3×2-3 mm×10-23mm长，薄膜材料：≥50 nm
热电偶导距: ≥6 mm
电 流: 0 to 160 Ma
气 氛：0 to 160 mA
加热电极相数/电压：单相，220V，
夹具接触热阻：≤0.05 m2K/W