BA-100-MVP_博曼测厚仪

详细介绍
 美国博曼Bowman测厚仪BA-100-MVP，是原美国CMI900升级产品，是一款全新的智能化机型，可为您提供高精度、快速简便的测量和分析。仪器搭载高分辨率的固态Si-PIN探测器，良好的元素峰位分辨无需二次滤波器，且峰位长时间保持稳定，无需频繁地进行再校准。
美国博曼Bowman测厚仪BA-100-MVP为紧凑式几何结构，激发源到样品的距离只有其它同类机型的三分之一，有效提高测量精度和效率。可提供用户三种不同的样品平台选择：标准固定台；马达驱动/可编程XY平台；加宽的的可编程XY平台。
美国博曼Bowman  BA-100-MVP可应用于汽车行业、线路板行业（特别是测沉金与钯金比同类机型***），连接器行业，螺丝紧固件，五金卫浴行业，珠宝，通讯行业等。
美国博曼Bowman测厚仪BA-100-MVP仪器参数：
X射线管：50W（50KV，1MA）微聚焦钨钯射线管，
探测器：固态Si-PIN探测器；
X射线光学机构：准直器机构；
焦距：可变焦功能；
Z轴控制及聚焦方式：自动Z轴控制，自动激光聚焦；
测量光点：圆形：0.1mm;0.2mm; 0.3mm; 0.5mm; 1.5mm;
矩形：0.05mm*0.25mm; 0.025mm*0.25mm;
XY平台：固定平台（开槽式）
马达控制/可编程XY平台 ；
平台尺寸：350mm×390MM; 行程：125mm×150mm;
延伸可编程XY平台：
平台尺寸：715mm×600mm;   行程：254mm×254mm;

博曼测厚仪
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