详细介绍
应用 CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非***，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质 量管理到成本节约有着广泛的应用。 镀层测厚仪行业 用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量。 镀层测厚仪技术参数 主要规格规格描述 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任选 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统***多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等