晶体硅IEC61730认证光伏组件报告清关证书
新版标准把晶体硅IEC 61215和薄膜IEC 61646的两个标准糅合在一起，变成了IEC61215系列标准，采用一个总的测试要求（IEC61215-1）和一个总的测试程序（IEC 61215-2），而对不同类型的组件，则采用特殊要求加以说明（IEC61215-1-X）,是的，以后就没有IEC61646啦。
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测试标准
IEC 61215：地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和型式认可
IEC 61646：地面用薄膜光伏组件设计鉴定和型式认可
IEC 61730：第1和第2部分光伏组件安全性鉴定；结构要求和测试要求，包括2级防护
UL 1703 UL：平板光伏组件的安全标准；光伏建筑一体化的扩展安全检验（BIPV）
IEC 62108：按照IEC 62108:2007/EN 62108:2008标准的CPV（聚光光伏）组件设计鉴定和型式认可
IEC 61701：盐雾测试，对组件在盐雾空气中的要求
晶体硅IEC61730认证光伏组件报告清关证书
2016年新版IEC 61215和61730相继推出，分别针对光伏组件性能和安全标准进行了10年来的***更新。
1）IEC 61730-1新版进一步兼容IEC 60664要求，并且引入了大量新概念：
组件组成部分的概念
安装和应用相关的概念（BAPV, BIPV）
绝缘的概念（基本绝缘、双层绝缘、功能绝缘、加强绝缘、附加绝缘、固体绝缘）
污染等级、漏电起痕指数（CTI）、材料分组（I, II, III）、粘合结构、温度指数、相对耐热指数等
2）根据老标准要求，1000V系统电压对应组件的爬电距离***小为8.4mm，1500V系统电压对应组件的爬电距离***小为11mm，老标准中爬电距离只与系统电压相关，但是新标准中不仅仅与系统电压相关还与组件的污染等级和材料等级相关。
3) 材料等级
通过经验和试验发现，绝缘材料具有较高的相对性能，并且根据材料的相对漏电起痕指数（CTI,测试方法参考IEC 60112）也有大致相同的相对排名。
因此，绝缘材料可以根据他们对应的CTI划分为以下四个材料等级（参考IEC 60664-1对材料等级的定义）：