微区扫描电化学工作站性能

　　微区扫描电化学工作站-扫描电化学显微镜是由Uniscan仪器开发的第四代扫描探针系统，具有更高规格和更多探针技术。
　　扫描电化学显微系统（SECM）
　　交流扫描电化学显微镜系统（ac-SECM）
　　间歇接触扫描电化学显微镜系统（ic-SECM）
　　微区电化学阻抗测试系统(LEIS)
　　扫描振动点击测试系统（SVET）
　　电解液微滴扫描系统（SDS）
　　交流电解液微滴扫描系统（ac-SDS）
　　扫描开尔文探针测试系统（SKP）
　　非触式微区形貌测试系统（OSP）
　　出色的性能
　　快速精准的闭环***系统为电化学扫描探针纳米级研究的需求而特别设计。结合Uniscan 独特的混合型32-bit DAC技术，用户可以选择合适实验研究的***佳配置
　　***和灵活的工作平台
　　系统可提供9种探针技术，使得M470成为******灵活的电化学扫描滩镇工作平台。
　　***的附件
　　7种模块可选，3种不同电解池，各式探针，长距显微镜以及后处理数据分析软件。
　　微区扫描电化学工作站
　　http:///st23184/ml