镀层测厚仪采用无损方法既不***覆层也不***基材，检测速度快，能使大量的检测涂层工作经济地进行。随着科学技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法测量涂层和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。镀层测厚仪适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用蕞广泛的涂层测厚仪器。
涂层和覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对涂层覆层厚度测量有了明确的要求和规定。
涂层覆层厚度的测量方法主要有：楔切法涂层测量，光截法涂层测量，电解法涂层测量，厚度差测量法，称重法涂层测量，X射线荧光法涂层测量，β射线反向散射法涂层测量，电容法涂层测量、磁性测量法涂层测量及涡流测量法涂层测量等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量涂层厚度，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有***源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层涂层测厚时采用。
影响镀层测厚仪测量精度的原因：
(1) 覆盖层厚度大于25m时,其误差与覆盖层厚度近似成正比；
(2) 基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关；
(3) 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响；
(4) 涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的；
(5) 试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大；
(6) 基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大；
(7) 涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头 和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触。
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