随着航空、航天、能源工业等领域对电子产品质量的要求日益提高，电子产品的可靠性问题受到了越来越广泛的重视。电子产品在使用过程中会遇到不同的环境温度条件， 在热胀冷缩的应力作用下， 热匹配性能差的电子元器件就容易失效，致使电子产品故障，造成巨大的人力和财力损失。电子元器件的老化和测试就是仿照或者等效产品的使用状态，通过测试，将不合格元器件剔除，将电子产品的质量在加工初期进行有效的控制，以保证电子产品使用的可靠性和稳定性。

针对电子元器件的可靠性与稳定性，我们开发了一种测量精度、自动化程度、可扩展性较高的电子元器件老化测试系统，将高温老化、功率老化、温度循环、性能检测等过程在一套系统中综合实现，不仅可以满足电子元器件不仅能够满足电子元器件产品多样性的需求，还能适应生产线或实验室大批量快速检测的要求。

该系统作为航空、汽车、家电、科研等电子产品生产领域必备的测试设备，用于电阻、电容、电感、二极管、稳压器、变压器、继电器等多种元器件进行老化测试，以检测电子元器件的参数和性能指标随温度变化是否可靠稳定，从而节约成本提***率。

1系统硬件结构 
系统由三大部分组成：测量与控制、调理与路由、温度环境。系统硬件结构如图1所示。测量与控制部分是整个系统的核心，主要组成硬件有LCR表，数字万用表，耐压仪，漏电流测试仪、示波器、信号发生器、功率发生器、精密编程电源等仪器。所有的硬件测量与控制资源通过信号调理和大规模的矩阵路由接入温度控制环境中，可以对各类电子元器件进行环境温度控制和在线测试。

图1 系统硬件结构

计算机通过显示器、鼠标、键盘实现人机交互，并通过GPIB或RS232与LCR表、数字万用表、信等仪器进行通信，控制仪器实现各项测量任务。同时计算机中集成NI公司的数字I/O板卡主要用于系统的状态反馈和动作控制。老化板的辨识、信号通道切换模块的动作、报***和蜂鸣器等状态指示的实现都是利用数字I/O板卡配合相应的信号调理电路来完成的。

LCR表主要用于测量元器件的容性、***阻抗参数，在本系统中主要利用四线法原理检测电阻、电容、电感等参数； 
数字万用表主要用于测量元器件的电压和电流等参数，在本系统中主要用于检测功率变压器的输入输出电压和电流、三端稳压器的输入输出电压和电流，二极管的正向压降等参数。

耐压仪可以用于测量元器件的绝缘阻抗和测点间耐压，本系统中主要用于测试继电器、变压器等元器件触点之间的绝缘阻抗和耐压； 
漏电流测试仪主要用于电容的耐压测试； 
信号发生器和示波器主要用于元器件的输入和输出信号检测，本系统中主要用于三端稳压器的输入和输出波形检测，变压器的输出和输出波形检测；