X荧光镀层测厚仪

应用 CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非***，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。行业用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。主要规格 规格描述 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统 ***多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，***小测量斑点尺寸为： 0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，***大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)