FISCHER X-RAY膜厚仪

FISCHER X-RAY膜厚仪主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用***新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!! FISCHER X-RAY 膜厚仪采用真正的基本参数原理（FP）来测量厚度，
准。德国菲希尔 FISCHER成立 1953 年是世界上***生产涂镀层测厚仪***早的厂家之一, 其电镀膜厚仪占世界 80%市场， 德国菲希尔 FISCHER 已成为镀层厚度测量和材料测试仪器领域公认的***者
可测量：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
***多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。
分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。
让客户满意，为客户创造***大的价值是金霖始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！联系人：谢 13691938370    电话：0755-29371652  传真：29371653            ***:1162400920
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