X射线（膜厚仪）膜厚测试仪

X射线（膜厚仪）膜厚测试仪，能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非***性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的***.可测量各类金属层、合金层厚度.
可测元素范围：
钛(Ti) –铀(U)
X射线（膜厚仪）膜厚测试仪可测量厚度范围：
原子序22-92，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
高压：0-50KV(程控)
多样准直器可根据实际需求选择
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍***的镍离子浓度,镀铜***的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
X射线（膜厚仪）膜厚测试仪可做定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.联系人：王生：13316557996   电话：0755-29371655  传真：0755-29371653   地址：宝安中心区宏发中心大厦