fisher（XDL）膜厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非***性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的***.可测量各类金属层、合金层厚度.
可测元素范围：钛(Ti) –铀(U)可测量厚度范围：原子序22-92，0.1-0.8μm fisher（XDL）膜厚仪,能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构，它的新颖专利X－射线光学镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体***适合测量薄到数NM的镀层.fisher膜厚仪极适合对一些较小的样板进行测量，尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、珠宝，连接器，一些电气产品中的小五金零件等等，操作员只需将测试面朝下，不论大小的样品可直接放进测量室内，不用调距离，只需对准位置，便可立即测量，这不单可以令测量更快速，还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。 fisher（XDL）膜厚仪遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497国际标准，主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用***新的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!请联系 王生:133 1655 7996 0755-29371655