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仪准科技(北京)有限公司

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手动探针台Probestation,激光开封机Laserdecap,光发射显微镜EMMI,IV自动曲线量测仪,红外显微镜,半导体失效分析设备,集成电路测试:非破坏xing分析半导体芯片IC失效分析Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,交流微信a3......

半导体I-V特性曲线仪失效分析

产品编号:8893154                    更新时间:2018-05-15
价格: ¥888888.00

仪准科技(北京)有限公司

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产品详情

半导体I-V特性曲线仪 

电学测试
 对样品的电气性能进行测试,确认失效样品的失效模式,并提供相关数据,为后续的失效分析提供信息。

测试项目: 电阻、电容、电感等参数的测量测量I/V曲线                  

Advanced ***art-1 Auto Curve Tracer                 

 Agilent B1500 SemiconductorDeviceAnalyzer

 

  
 

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