半导体I-V特性曲线仪
电学测试
对样品的电气性能进行测试,确认失效样品的失效模式,并提供相关数据,为后续的失效分析提供信息。
测试项目: 电阻、电容、电感等参数的测量测量I/V曲线
Advanced ***art-1 Auto Curve Tracer


Agilent B1500 SemiconductorDeviceAnalyzer


手动探针台Probestation,激光开封机Laserdecap,光发射显微镜EMMI,IV自动曲线量测仪,红外显微镜,半导体失效分析设备,集成电路测试:非破坏xing分析半导体芯片IC失效分析Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,交流微信a3......
价格: | ¥888888.00 |
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